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掃描電鏡快速檢測,SEM現(xiàn)場檢測-國科控股資質(zhì)檢測機構(gòu)
更新時間:2022-08-03
訪問量:3893
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
生產(chǎn)地址:
國科控股提供
掃描電鏡測試SEM,x射線能譜測試EDS
周主任:
廣州中科檢測技術(shù)服務(wù)有限公司通過了中國國家認(rèn)證認(rèn)可監(jiān)督管理委員會和中國合格評定國家認(rèn)可委員會的二合一(cma、cnas)實驗室認(rèn)證認(rèn)可,是的第三方檢測機構(gòu)。為您出具認(rèn)證報告!日立S-3400N掃描電鏡、德國布魯克Xflash Detector 5010能譜儀,固體樣品均可,樣品應(yīng)經(jīng)過真空干燥處理,不含水分或其它易揮發(fā)成分。樣品厚度不能高于10mm,樣品直徑200mm。測試條件:加速電壓0.3~30kv,放大倍率5~300000倍,分辨率SE 3nm@30kv、10nm@3kv;BSE 4nm@30kv??梢詼y量固體樣品、薄膜、微粒的表面結(jié)構(gòu),不導(dǎo)電的需噴金后測定。
掃描電鏡快速檢測,SEM現(xiàn)場檢測-國科控股資質(zhì)檢測機構(gòu)
掃描電鏡測試SEM可提供表面結(jié)構(gòu)測試,進行樣品微觀分析,掃描式顯微鏡可放大到30萬倍以上,可測試項目廣泛。
掃描電鏡快速檢測,SEM現(xiàn)場檢測-國科控股資質(zhì)檢測機構(gòu)
X射線能譜:入射電子和樣品進行非彈性碰撞可產(chǎn)生連續(xù)x光和特征x光,前者系入射電子減速所放出的連續(xù)光譜,形成背景決定zui少分析之量,后者系特定能階間之能量差,可藉以分析成分元素。
元素分析:
可以測試的金屬元素有: 鋰(li)、鈹(be)、 鈉(na)、鎂(mg)、鋁(al)、 鉀(k)、鈣(ca)、鈦(ti)、釩(v)、鉻(cr)、錳(mn)、鐵(fe),鈷(co)、鎳(ni)、銅(cu)、鋅(zn)、鎵(ga)、...
特別推出紅外(F?IR)、DSC(差視熱量掃描儀)、TGA(熱失重分析)、TGA-FIR聯(lián)用、DMA動態(tài)力學(xué)分析儀、塑料導(dǎo)熱系數(shù)、塑料配方剖析未知物成分分析、激光粒度儀、TEM(透射電鏡)、SEM(掃描電鏡)的測試。
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